HORIBA堀場制作所 納米粒度及Zeta電位分析儀SZ-100-Z2

HORIBA堀場制作所 納米粒度及Zeta電位分析儀SZ-100-Z2

HORIBA堀場制作所 納米粒度及Zeta電位分析儀SZ-100-Z2

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先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發(fā)揮著關鍵作用。

簡單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！

一臺設備、三種功能，可對每個測量參數(shù)進行高靈敏度、高精度的分析。

概要

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品?？墒褂檬惺鄣臉悠烦兀部蓪崿F(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

• SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。

• 使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量

• HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。

• HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。